近年来,X射线CT技术凭借强大的检测能力和日益广泛的应用场景,被誉为未来测量技术的趋势。
我们的应用工程师拥有近10年积累的丰富经验,依靠全面的X射线CT产品线,让我们能够解决各种需求的挑战,为您提供可靠的检测方案,广泛用于科学研究、质量控制、失效分析、逆向设计等领域。同时,我们提供手动、半自动和全自动的多种系统,以适合您的多样化需求,确保为您提供优秀的检测结果。
计算机断层扫描(CT)是对样品进行无损检测(NDT)和无损评价(NDE)的关键手段,可部分取代传统破坏性剖切的检测方法,实现在任意方向上无损获得剖切成像,更可以从三维立体结构上进行观察和分析,更真实地反映样品内部结构。

成像 | 尺寸测量 | 统计分析 | 模拟计算 |
X-ray 2D成像 CT断层3D成像 Slice剖面视频 三维渲染视频 | 长度测量 角度测量 体积计算 表面积计算 | 孔隙率 壁厚分析 数模比对 逆向工程 | 多孔介质渗流模拟 热导率模拟 有限元计算 |
特点与优势
技术指标
分辨率
X射线源
平板探测器
成像面积 | 145mm×114mm |
像素矩阵 | 2940×2304 |
样品
可检测样品尺寸 | 300mm×200mm(直径×高度) |
样品承重 | 15kg |
设备物理参数
设备尺寸 | 900mm×500mm×660mm(长×宽×高) |
设备重量 | 500kg
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